学振マイクロビームアナリシス第141委員会
委員会活動紹介

特別講演会・特別研究会

• 2012年9月27日：榊米一郎先生白寿記念特別講演会【写真集】
• 2011年11月19日：The Commemorative Symposium for Receiving the Honda Prize by Professor Somorjai (Somorjai先生、 2011年度本田賞受賞記念講演会)【写真集】

定例研究会

• 第152回研究会 (2013/5/14,15; ニューウェルシティ湯河原)
• 第151回研究会 (2013/2/6,7; 京都大学 東京オフィス)
• 第150回研究会 (2012/12/4,5; 京都大学)
• 第149回研究会 (2012/9/27,28; 名古屋大学)
• 第148回研究会 (2012/5/9-5/10; ホテルアジュール竹芝)
• 第147回研究会 (2012/2/29-3/1; 産業技術総合研究所)
• 第146回研究会 (2011/11/24,25; 立命館大学)
• 第145回研究会 (2011/9/15,16; 名城大学)
• 第144回研究会 (2011/5/22-5/27; ALC'11; ソウル)
• 第143回研究会 (2011/2/22,23; 東京理科大学)

各種賞の授与履歴

榊賞

第18回 (平成24年度)

• 榊賞：日比野 浩樹 (NTT)
  「低速電子顕微鏡を用いた低次元構造の解析と形成制御の研究」
• 榊奨励賞：早坂 孝宏 (浜松医科大学)
  「質量顕微鏡法の開発と生命科学への応用」
• 榊技術賞：飯田 真一 (アルバック・ファイ)
  「実用材料の飛行時間型二次イオン質量分析における高精度化」
• 榊技術賞：堤 建一 (日本電子)
  「高エネルギー分解能ＡＥＳスペクトルを用いた化学状態定量分析法の開発」
• 榊技術賞：常田 るり子 (日立中研)
  「透過電子顕微鏡による3次元観察技術」
• 榊技術賞：菊池 秀樹 (日立ハイテクノロジーズ)
  「透過電子顕微鏡による3次元観察技術」
• 特別表彰：「福島第一原発事故関連の放射線量測定活動」
  佐藤 了平 (大阪大学)、木村 吉秀 (大阪大学)、吉井 淳治 (CLOUDOH)、
  越川 孝範 (大阪電気通信大学)、永井 滋一 (三重大学)、佐瀬 卓也 (大塚製薬)、
  瀬籐 光利 (浜松医科大)、長谷部 光泉 (東海大学)、細川 好則 (エックスレイプレシジョン)、
  志水 隆一 (大阪大学)、宇野 賀津子 (ルイ・パストゥール医学研究センター)、
  宮崎 真 (福島県立医科大学)、佐藤 久志 (福島県立医科大学)

第17回 (平成23年度)

• 榊特別賞：二瓶 好正 (東京理科大学)
  「マイクロビームアナリシスに関する研究と先端計測分析技術の装置化推進への貢献」
• 榊賞：松尾 二郎 (京都大学)
  「分子イオンSIMSの開発とソフトマテリアルへの先駆的応用」
• 榊奨励賞：鈴木 雅彦 (大阪電気通信大学)
  「スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡を用いた表面観察」

第16回 (平成22年度)

• 榊賞：岡山 重夫 ((独)産業技術総合研究所)
  「多段自己整合型四重極収差補正レンズの開発」
• 榊奨励賞：長谷部 光泉 (東邦大学)
  「新しいステントの開発と物理分析法による詳細な解析」
• 榊奨励賞：永富 隆清 (大阪大学)
  「荷電粒子(電子、イオン)と固体表面の相互作用の基礎的検討」
• 榊功績賞：大岩 烈 (オミクロン・ナノテクノロジー・ジャパン)
  「本委員会の国際会議等の運営への積極的貢献」

第15回 (平成21年度)

• 榊特別賞：森田 清三 (大阪大学)
  「ノンコンタクトAFMの開発と原子オーダーでの表面物性の解明」
• 榊奨励賞：青柳 里果 (島根大学)
  「飛行時間型二次イオン質量分析法における新手法の開発と生命科学分野への応用」
• 榊奨励賞：小松 学 (キヤノン)
  「将来の医療診断手法開発を目指したTOF-SIMS生体材料高感度検出手法の開発」
• 榊功績賞：足立 達哉 (エスアイアイ・ナノテクノロジー)
  「集束イオンビーム装置・応用技術の開発とその普及」

第14回 (平成20年度)

• 榊賞：安藤 敏夫 (金沢大学 理学部 物理学科 教授)
  「高速AFMの開発とタンパク質のナノ動的観察」
• 榊奨励賞：畑 浩一 (三重大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻 准教授)
  「CNTからの電界放出についての先駆的研究と実用化」
• 榊奨励賞：日比野 浩樹 (NTT物性科学基礎研究所)
  「表面電子顕微鏡を用いた結晶成長・表面相転移の動的観察」
• 榊功績賞：工藤 正博 (成蹊大学 理工学部 物質生命理工学科 教授)
  「日本・アジアにおけるSIMSコミュニティの組織化と研究活性化への貢献」

第13回 (平成19年度)

• 榊特別賞：志水 隆一 (財団法人国際高等研究所 上級研究員)
  「マイクロビームアナリシスにおける先導的研究と委員会での卓越した指導による研究の活性化」
• 榊賞：大島 忠平 (早稲田大学 理工学部 応用物理学科 教授)
  「単原子ティップ開発ならびに超高分解能フォノン分光における先駆的研究」
• 榊奨励賞：坂本 哲夫 (工学院大学 工学部 電気システム工学科 助教授)
  「環境分析のための超微粒子の分析技術の開発」
• 榊奨励賞：堂前 和彦 ((株)豊田中央研究所 分析・計測部 先進分析研究室 室長)
  「自動車用排ガス浄化触媒の in situ XAFS 解析」

第12回 (平成18年度)

• 榊特別賞：丸勢 進 ((独)科学技術振興機構 研究成果活用プラザ東海 総館長)
  「マイクロビームアナリシスの基礎作りと発展への貢献」
• 榊功績賞：橋本 操 (新日本製鉄(株) 先端技術研究所 所長)
  「マイクロビームアナリシスにおける人材育成活動への貢献」
• 榊賞：越川 孝範 (大阪電気通信大学 エレクトロニクス基礎研究所 教授)
  「高性能光電子顕微鏡の開発」
• 榊奨励賞：黒河 明 ((独)産業技術総合研究所 フロンティア研究部門 主任研究員)
  「ナノ標準物質のための極薄シリコン酸化膜作製技術と表面長期保持技術の開発」
• 榊奨励賞：瀬藤 光利 (自然化学研究機構 岡崎統合バイオサイエンスセンター 助教授)
  「生体解析のための新しい顕微法の開発」

第11回 (平成17年度)

• 該当者なし

第10回 (平成16年度)

• 榊特別賞：小林 尚 (アルバックファイ(株))
  「国際標準化活動、人材育成部会活動など本委員会運営に対する多大な貢献」
• 榊奨励賞：趙 福来 (早稲田大学 理工学部 大島研究室 PD)
  「エミッターの冷却による電界放出電子ビームの可干渉性の向上の実証」

第9回 (平成15年度)

• 榊賞：木村 吉秀
  「次世代超電子顕微鏡の実時間焦点変調制御系および画像処理機能を有するCCDカメラの開発」
• 榊奨励賞：名越 正泰
  「極低加速SEMによる鉄鋼材料表面観察」
• 榊奨励賞：富田 充裕
  「二次イオン質量分析法による極浅拡散層の評価」

第8回 (平成14年度)

• 榊賞：平山 司
  「電子波の干渉を利用した位相技術の開発と材料・デバイス解析への応用」
• 榊奨励賞：吉川 英樹
  「放射光技術との融合を目指した光電子スペクトロマイクロスコープの開発」

第7回 (平成13年度)

• 榊特別賞：田村 一二三
  「二次イオン質量分析装置の開発と普及」
• 榊賞：高橋 秀之
  「電子プローブアナライザーの機能向上」
• 榊奨励賞：石井 秀司
  「光電子スペクトルホログラフィーのための超強力X線源の開発」

第6回 (平成12年度)

• 榊賞：高屋 憲一
  「二次イオン質量分析法による生体内微量元素分布解析法の研究」

第5回 (平成11年度)

• 榊賞：河合 潤
  「X線・電子を用いた新しい局所状態分析法の開発」

第4回 (平成10年度)

• 榊賞：圦本 尚義
  「SIMSによる高精度同位体比測定法の開発と惑星科学への応用」

第3回 (平成9年度)

• 榊特別賞：市ノ川 竹男
• 榊賞：林 俊一
  「ポストイオン化スパッタ中性粒子質量分析法の開発」

第2回 (平成8年度)

• 榊賞：一村 信吾
  「レーザーを用いたアトムカウンティング技術の開発」
• 榊賞：後藤 敬典
  「絶対計測用CMAの開発と標準オ-ジェスペクトル測定」

第1回 (平成7年度)

• 榊賞：本間 芳和
  「2次電子像による半導体表面および結晶成長過程の観察」
• 榊賞：田沼 繁夫
  「理論計算による非弾性散乱平均自由行程のデータベースの構築」

JSPS 141 Committee Award

2011年 (ALC’11)

• Dietrich Menzel (TU München / Fritz-Harber-Institute der MPG)

2009年 (ALC’09)

• Gabor A. Somorjai (University of California, Berkeley)
• Harald Ibach (Research Center Jülich)

2007年 (ALC’07)

• Charles S. Fadley (University of California, Davis)

2005年 (ALC’05)

• Harald Rose (Technische Universität Darmstadt)

2003年 (ALC’03)

• Oliver C. Wells (IBM)
• Ernst Bauer (Arizona State University)
• 外村 彰 (日立製作所)

Student Award on International Symposiums

ALC’11 (Seoul)

• Bo DA (University of Science and Technology of China, CHINA)
  “Modeling of Surface Excitation Effect for Rough Surfaces”
• Takumi INABA (Tokyo University of Science, JAPAN)
  “Tip Characterizer of Atomic Force Microscopy Using Singly-Suspended Carbon Nanotube”
• Motoyuki KARITA (Nagoya University, JAPAN)
  “In-situ TEM Study on the Improvement of Contact Resistance between a Carbon Nanotube and Metal Electrodes by Local Melting”
• Thi Thu Hien KHUAT (JAIST, JAPAN)
  “Hydrogen Desorption from a Flat Si(111)1×1 Surface Studied by Sum Frequency Microscopy”
• Gregor KOWARIK (Vienna University of Technology, AUSTRIA)
  “Tuning Capillary Guiding”
• Yudai OHTOMO (Tohoku University, JAPAN)
  “Surface Morphology of Al, Si, and Cu Substrates Flattened by a 2"-size Photoemission-assisted Ion Beam Source”
• Changkun PARK (Hokkaido University, JAPAN)
  “Oxygen Isotopic Variation of a Type A Ca-Al-rich Inclusion and Its Implication to the Early Solar System”

ALC’09 (Maui)

• Abbas ALSHEHABI (Kyoto University)
  “Multilayer Nano-Characterization by a Portable Bremsstrahlung X-ray Reflectometer”
• Makiko FUJII (The University of Tokyo)
  “Development of Reconstruction Method for Highly Precise Shave-off Depth Profiling”
• Emelie HILNER (Lund University)
  “Influence of Au Nano Particles on the Self-Propelled Motion of Mesoscopic Droplets”
• Hideaki HOZUMI (Tohoku University)
  “Real-time Photoelectron Spectroscopy Study of 3C-SiC Nucleation and Growth on Si (001) Surface by Carbonization with Ethylene”
• Daichi KAWANO (Osaka Institute of Technology)
  “Measurement of a Charge Distribution in the Specimen Chamber in a Scanning Electron Microscope”
• Yusuke KOBAYASHI (Mie University)
  “Nano-structure Formation onto a Tip of Field Gas Ion Emitter by Field-assisted Oxygen Etching”
• Yuki MORO (Yokohama National University)
  “Size Control of Mn-Zn Ferrite Nanoparticles and Their XAFS Spectra”
• Hiroaki TAKAHASHI (Japan Advanced Institute of Science and Technology)
  “Optical Second Harmonic Spectroscopy of the Electronic States of Stepped Rutile TiO₂ (12 12 5) Surface Adsorbed with Formic Acid”
• Thomas YORISAKI (Waseda University)
  “CO Adsorption on LaB₆ (111) and (100) Surface Investigated by RAIRS”

ALC’07 (Kanazawa)

• Ahmed Bakr Mohamed Mahmoud EL BASATY (Ministry of Higher Education, Egypt)
  “Surface Plasmon — Cobalt Phthalocyanine Sensor for NO₂ Gas”
• Michihiro HASHIMOTO (Osaka Electro-Communication University, Japan)
  “Mapping of Chemical Bonding States of Ag/Si(111) with Synchrotron Radiation Photo Emission Electron Microscopy”
• Yusuke KISAKA (Tokyo University of Science, Japan)
  “Study on Dynamics of Surface Structure by Rapid and Time-resolved X-ray Photoelectron Diffraction”
• Walter MEISSL (Vienna University of Technology, Austria)
  “Electron Emission from Highly Charged Ion Irradiated Alkali-halide Targets”
• Tomoko MINAMI (Japan Women’s University, Japan)
  “Structural Analysis of Crystal Surfaces by Reflection High-Energy Electron Diffraction Patterns: The Si(111)7×7 Surface”
• Tsunenori NOMAGUCHI (Osaka University, Japan)
  “A Process for Exit Wave Reconstruction Using Through-focus Series”
• Tatsuhiko TANIMURA (The University of Tokyo, Japan)
  “Analysis of X-ray Irradiation Effect in High-k Gate Dielectrics by Time-dependent Photoemission Spectroscopy Using Synchrotron Radiation”
• Kouta UEDA (Nagoya University, Japan)
  “First Observation of Dynamic Shape Change of a Gold Nano-particle Catalyst under Reaction Gas Environment by Transmission Electron Microscopy”
• Tomohiro URATA (Waseda University, Japan)
  “Application of the Single-atom Electron Source to Scanning Electron Microscope”
• Ryosuke WATANABE (Japan Advanced Institute of Science and Technology, Japan)
  “Hysteresis of Magnetization Induced Second Harmonic Generation from the Co Doped Rutile TiO₂(110) Surface”
• Ryosuke YABUSHITA (Mie University, Japan)
  “Newly Developed High Spatial Resolution X-ray Microscope Equipped with Carbon Nanotube Field Emission Cathode”

ALC’05 (Hawaii)

• Volha V. ABIDZINA (Belarusian-Russian University)
  “Surface modification in metals by the low-energy ion irradiation in discharge plasma”
• Jeremy BRISON (University of Namur)
  “Cesium/Xenon co-sputtering and ToF-SIMS depth profiling: A fundamental survey through the periodic table”
• Takuya BUNGO (Osaka University)
  “Dependence of depth resolution on primary energy of ions in sputter depth profiling”
• Takahiro ITAGAKI (Waseda University)
  “Field emission from a single-atom tip: Apex structure dependences of field emission properties”
• Takeshi IYASU (Osaka Institute of Technology)
  “A novel approach to derive escape depth of secondary electrons as applied to Ti and TiO₂”
• Hidehiro MOCHIZUKI (Tokyo University of Science)
  “Surface structural analysis of h-BN/Ni(111) by X-ray photoelectron diffraction excited by Al-Kα line and Cr-Kα line”
• Akihiko NAKAGUCHI (Osaka Electro-Communication University)
  “Sb on In/Si(111) processes with dynamically observable LEEM, selected area LEED and chemically analyzed SR-XPEEM”
• Naoya SAKAMOTO (Hokkaido University)
  “High sensitive ion imaging system using direct combination of stacked-type solid-state imager and microchannel plate driven by LabVIEW software”
• Shuichi SHIMMA (National Institute for Physiological Sciences)
  “Direct MS/MS analysis in mammalian tissue sections using MALDI-QIT-TOFMS and chemical inkjet technology”
• Daisuke TAKAGI (Tokyo University of Science)
  “In-situ scanning electron microscopy of single-walled carbon nanotube growth”

ALC’03 (Kauai)

• T. FUJITA (Waseda University)
  “Novel structures of carbon layers on Pt(111) Surface”
• Kazuki KAIBUCHI (Kyoto University)
  “The soft X-ray analysis of fluorine from BaF₂ to HfF₄”
• Canhua LIU (University of Tokyo)
  “First atomic-scale observations of two-dimensional liquefaction and solidification in real space”
• Kenichi NISHINAKA (Osaka University)
  “Development of coincidence transmission electron microscope — Application of waveform measurement system”
• H. YANAGISAWA (Waseda University)
  “The phonon dispersion of a BC₃ film on NbB₂(0001) surface”

ALC’01 (Nara)

• M. H. HAMDI (Kyoto University)
  “Atomic Level Characterizations of Hydroxyapatite Films for Biomedical Applications”
• Shin-ichi IIDA (Osaka University)
  “Atomic Level Characterization of Sc-O/W(100) Emitter at High Temperatures I”
• Tadahiro KAWASAKI (Osaka University)
  “Phase Reconstruction with Aberration Correction by Three-dimensional Fourier Filtering Method”
• Naoki KUROIWA (Osaka Electro-Communication University)
  “Cu Nano-Structure Formation and Structure Analysis on H Terminated Si(111)”
• Tetsutane YAMASHITA (Waseda University)
  “Coherent Electron Emission from Carbon Nanotubes — Young’s Interference of Electrons with a Fermi Wavelength”

ALC’97 (Maui)

• Nobutaka KOBAYASHI (Osaka University)
  “Dynamic Observation of Diamond Growth on Pt(111) Surface”
• Kazuhiko HAYASHI (Nagoya University)
  “Thermal Relaxation Process of Three Dimensional Islands on Si(111)7×7 Surface”
• Kazuhide NAGASHIMA (Tokyo Institute of Technology)
  Takuya KUNIHIRO (Tokyo Institute of Technology)
  “Characteristics of Amplified MOS Imager”
• Shinji OMORI (University of Tokyo)
  “Reconstruction of the Crystal Structure by Kikuchi-band Analysis in X-ray Photo- and Auger Electron Diffraction”
• Tetsutane YAMASHITA (Waseda University)
  “Electron Emission from Nb Superconductor”

ワーキンググループ

研修セミナーワーキンググループ

• 2013年4月18,19日、ホテルコスモスクェア国際交流センター、「イオンを利用した分析法」【予定】
• 2012年4月19,20日、ホテルコスモスクェア国際交流センター、「SPMの基礎と応用」
• 2011年12月1,2日、東レ総合研修センター、「SEM、TEMにおける分光分析技術」
• 2010年4月22,23日、東レ総合研修センター、「走査電子顕微鏡法とその周辺技術」－SEM,EMPA,EBSDの基礎から応用まで－

SIMS新技術ワーキンググループ

• The 15th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2013年4月25,26日、成蹊大学【予定】
• 勉強会：2012年7月19日、成蹊大学、「データ解析」
• The 14th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2012年5月31, 6月1日、成蹊大学
• 勉強会：2012年4月14日、成蹊大学、「Nano-SIMS」
• The 13th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2011年6月23,24日、トヨタ中研
• The 12th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2010年6月10,11日、成蹊大学
• The 11th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2009年6月11,12日、成蹊大学
• The 10th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2008年7月17,18日、成蹊大学
• The 9th International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions: 2006年7月20,21日、成蹊大学
• ワークショップ：2007年3月2日、成蹊大学、「SIMS測定面の温度と測定精度」ほか
• ワークショップ：2006年11月20日、成蹊大学、「ダイナミックSIMSにおける定量分析・化合物半導体分析」
• ワークショップ：2006年5月26日、成蹊大学、「ダイナミックSIMSにおける絶縁物分析」
• ワークショップ：2006年2月20日、成蹊大学、「ダイナミックSIMSにおける深さ校正」
• International Symposium on SIMS and Related New Technology Based on Ion-Solid Interation: 2005年7月21,22日、成蹊大学
• 研究会：2004年7月23日、成蹊大学、IISC-15「イオン利用基礎講座: イオンを用いた分析の基礎と最新展望」と合同開催

材料分析ワーキンググループ

• 2009年3月3日、成蹊大学、「Characteristics of Quadrupole Ion Trap」(田中耕一氏 特別講演会)
• 2008年2月25日、東京大学、「環境特集第3弾 “金属の非鉛化開発とマイクロアナリシス”」
• 2007年5月16日、メルパルク広島、「チュートリアル及び材料解析事例紹介」
• 2007年2月28日、工学院大学、「陽電子を用いた非破壊観察技術」
• 2006年2月23日、東京理科大学、「環境規制の動向と環境分析技術」
• 2005年6月9日、淡路夢舞台、「HDD関連の分析事例紹介」

大型研究費獲得状況

未来開拓学術研究推進事業

• 「超コヒーレント電子銃の開発」、H11〜15年度、(代表)大島忠平
• 「光電子スペクトロホログラフィーによる原子レベルでの表面・界面3次元構造評価装置の開発」、H10〜14年度、(代表)二瓶好正
• 「次世代超電子顕微鏡の開発」、H8〜12年度、(代表)志水隆一

学術創成研究費

• 「ナノ位相トモグラフィー走査型透過電子顕微鏡の開発」、H18〜22年度、(代表)生田孝
• 「レーザー補助広角3次元アトムプローブの開発と実デバイスの3次元原子レベル解析」、H18〜22年度、(代表)尾張真則
• 「惑星探索用次世代超高感度微量質量分析システムの開発」、H16〜20年度、(代表)石原盛男
• 「放射光−極微解析ナノスコープ」、H13〜17年度、(代表)越川孝範

JST先端計測分析技術・機器開発事業

• 「スピン偏極電子源」、H17〜20年度、(代表)中西彊
• 「AFM探針形状評価技術の開発」、H17〜20年度、(代表)一村信吾
• 「収束イオンビーム/レーザーイオン化法による単一微粒子の履歴解析装置」、H16〜20年度、(代表)藤井正明

JST戦略的創造研究推進事業 (CREST)

• 「カーボンナノチューブ形成過程その場観察と特性制御への展開」、H15〜19年度、(代表)本間芳和

科学技術振興調整費 (先導的研究等の推進)

• 「超コヒーレント・バイオ位相差電子顕微鏡」、H15〜17年度、(代表)高井義造

出版活動

• Special Issue: 5th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC’05), Guest Editor: Y. Nihei and T. Koshikawa, Surface and Interface Analysis 38(11) (2006.11).
• Special Issue: 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC’03), Guest Editor: T. Koshikawa, Y. Homma and H. Yurimoto, Surface and Interface Analysis 37(2) (2005.2).
• Special Issue: 3rd International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC’01), Guest Editors: C. Oshima and T. Koshikawa, Surface and Interface Analysis 35(1) (2003.1).
• Special Issue on Commemorate the 25th Anniversary of Committee 141 on Microbeam Analysis of the Japan Society for the Promotion of Science, Guest Editors: Y. Nihei and R. Shimizu, Surface and Interface Analysis 31(2) (2001.2).
• Special Issue on Microbeam Analysis to Yoneichiro Sakaki in Celebration of his 80th Birthday, Microbeam Analysis 3(6) (1994.11/12).
• Special Issue on Microbeam Analysis in Japan — In Memory of Professor Gunji Shinoda, Microbeam Analysis 2(3) (1993.5/6).
• 志水隆一、丸勢進編集「マイクロビームアナリシス 現状と展望」日本学術振興会 (1992年1月)
• 日本学術振興会マイクロビームアナシス第141委員会編集「マイクロビームアナリシスハンドブック」朝倉書店 (1985年6月)